■エネルギー分散型蛍光X線分析装置

エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置は、Ｘ線管からの一次Ｘ線を試料に照射し、発生した蛍光Ｘ線を半導体検出器で計測することにより、その試料の形状に捉らず非破壊で元素の定性・定量分析を行います。半導体検出器は液体窒素冷却が不要な電子冷却方式のシリコンドリフトディテクタ(SDD)を使用し、デジタル計数回路(DSP)との組み合わせで、高分解能・高計数率の測定が可能です。

■活用例■

• ＲｏＨＳ指令に対応し、有害物質の検査
  
• 「土壌汚染対策法」特定有害物質の検査
  
• スクラップ材料の材質判定
  
• 考古学上の調査、科学の分析等
  

■特徴■

• 非破壊・短時間でスクリーニング分析が可能
  
• 管理区域の設定は不要
  
• 日本・中国・台湾での設置、メンテナンスサービスは可能
  
• 特注品の相談対応
  

モデル160RoHS

モデル160Multi

モデル160

モデル100FA